From 093b77904531dc2277a5f33680a49a4ab6577527 Mon Sep 17 00:00:00 2001 From: lizhanyuan <949777411@qq.com> Date: Thu, 19 Mar 2026 14:59:45 +0800 Subject: [PATCH] =?UTF-8?q?data:=20=E6=96=B0=E5=A2=9E=20flsol=20taskE=20au?= =?UTF-8?q?to=5Foptimize=5Fscan=20=E4=BB=BB=E5=8A=A1?= MIME-Version: 1.0 Content-Type: text/plain; charset=UTF-8 Content-Transfer-Encoding: 8bit --- .../flsol/flsol_taskE_auto_optimize_scan.json | 51 +++++++++++++++++++ 1 file changed, 51 insertions(+) create mode 100644 evaluation_examples/examples/flsol/flsol_taskE_auto_optimize_scan.json diff --git a/evaluation_examples/examples/flsol/flsol_taskE_auto_optimize_scan.json b/evaluation_examples/examples/flsol/flsol_taskE_auto_optimize_scan.json new file mode 100644 index 0000000..aaec6c4 --- /dev/null +++ b/evaluation_examples/examples/flsol/flsol_taskE_auto_optimize_scan.json @@ -0,0 +1,51 @@ +{ + "id": "flsol_taskE_auto_optimize_scan", + "snapshot": "flsol", + "instruction": "在 FL Solutions for F-4600 中，设置激发波长 350 nm，发射扫描范围 380–700 nm，调整仪器参数使荧光发射峰完整显示，截图保存最终谱图。", + "source": "custom", + "config": [ + { + "type": "launch", + "parameters": { + "command": [ + "C:\\Program Files\\FL Solutions\\flsol.exe" + ], + "shell": false + } + }, + { + "type": "sleep", + "parameters": { + "seconds": 12 + } + } + ], + "trajectory": "trajectories/", + "related_apps": [ + "flsol" + ], + "evaluator": { + "postconfig": [ + { + "type": "sleep", + "parameters": { + "seconds": 5 + } + } + ], + "func": "vllm_eval", + "expected": { + "description": "FL Solutions 主界面中图表区域应显示一条完整的荧光发射光谱曲线：峰形平滑、顶部无截断（曲线最高点不贴近纵轴上限）、基线平稳、信噪比良好。界面中的仪器参数区域应可见激发波长 350 nm、发射扫描范围 380-700 nm，以及经过迭代调整后的最终 PMT 电压和狭缝宽度参数。" + } + }, + "proxy": false, + "fixed_ip": true, + "possibility_of_env_change": "medium", + "metadata": { + "input_files": [], + "steps": "1. 等待 FL Solutions 主界面完全加载，确认仪器状态正常（无报错弹窗）。\n2. 点击菜单栏 'Method' → 'New'，选择 'Wavelength Scan'（波长扫描）方法类型，新建一个扫描方法。\n3. 在方法参数区域，将 'Excitation Wavelength'（激发波长）设为 '350' nm。\n4. 将发射扫描起始波长（Start WL / Em Start）设为 '380' nm，结束波长（End WL / Em End）设为 '700' nm。\n5. 将 'PMT Voltage' 设为 '700' V。\n6. 将 'EX Slit'（激发狭缝）和 'EM Slit'（发射狭缝）均设为 '2.5' nm。\n7. 点击 'Measure'（或按 F4 快捷键）执行第一次测量，等待扫描完成，观察图表区域中出现的谱图曲线。\n8. 【判断1：信号过强/截断】若谱图曲线的峰顶部出现水平平坦段（说明信号超量程被截断），则：\n a. 返回方法参数区域，将 PMT Voltage 降低 50 V（如从 700V 降至 650V）；\n b. 若降压后仍截断，可同时将狭缝宽度缩小一档（如从 2.5 nm 改为 1.0 nm）；\n c. 重新点击 'Measure' 执行测量，再次观察谱图。\n9. 【判断2：信号过弱】若谱图曲线几乎是一条接近零的直线（信号太弱），则：\n a. 返回方法参数区域，将 PMT Voltage 升高 50 V（如从 700V 升至 750V）；\n b. 若仍过弱，可同时将狭缝宽度增大一档（如从 2.5 nm 改为 5.0 nm）；\n c. 重新点击 'Measure' 执行测量，再次观察谱图。\n10. 重复步骤 8-9，每次调整后重新测量，直到谱图满足以下条件：峰形完整（顶部无截断平台）、峰值强度在纵轴量程的 30%–90% 范围内、基线平稳、峰形平滑。\n11. 满足条件后，截图保存当前谱图界面，记录最终参数（PMT Voltage、EX Slit、EM Slit 数值）。", + "steps_original": "1. 打开 FL Solutions，新建波长扫描方法。\n2. 设置激发波长 350 nm，发射范围 380-700 nm，初始 PMT 700V，狭缝 2.5 nm。\n3. 执行测量，观察谱图。\n4. 若峰截断则降低 PMT 电压和/或缩小狭缝；若信号过弱则升高 PMT 电压和/或增大狭缝。\n5. 反复迭代测量直到峰形完整显示，截图记录最终结果。", + "difficulty": "hard", + "highlight": "AI 能够读取谱图质量并进行闭环迭代调参，体现真正的仪器操控智能，而非机械执行固定步骤。" + } +} \ No newline at end of file